理化分析测试中心仪器收费标准
2024/12/5

仪器名称

仪器简介

性能参数

收费标准

 

日本电子JSM-6360LV扫描电镜

 

本仪器用于各种材料的形貌组织观察、金属材料断口分析和失效分析。与能谱仪联用,分析固体样品的微观形貌,样品的微区元素成份定性分析、定量分析及线分布、面分布。进行样品形态和粒度的测定。 

 

 

最高倍数:2万倍

样品台X:80 mmY:40 mm

校内:50/小时

校外:300/小时

 

日本电子JEM-2100F透射电镜

 

本仪器用于材料的高分辨形貌观察和晶体结构分析、定性与定量成分分析等。配有数字化CCD相机、能谱仪以及扫描透射系统。可进行透射电镜形貌像和电子衍射花样的数字化像的记录;进行材料微区的定性、定量成份分析;进行扫描透射明场像。

最高电压:200KV

分辨率:

点分辨率: ≤0.19 nm

线分辨率: ≤0.10 nm

放大倍数高达60万倍。

样品倾斜角度: ≥±25°

校内:400/小时

校外:1000/小时

微栅:

校内:20/

校外:30/

Gatan 695氩离子减薄仪

具有双离子源,每枪的角度变化为±10º,且相互独立;一台光学立体显微镜用来检查减薄过程中任一时刻在工作位置的样品来达到精确控制样品的最终减薄状态;;小于30秒的样品更换时间。

抛光角 +10°  -10° 

离子束能量:100 V - 8.0 kV ;离子束流密度:10 mA/cm2 峰值;抛光速度:300 μm/h8.0 kV条件下对于硅试样)

校内:50/小时

校外:100/小时

荷兰帕纳科Empyrean X-射线衍射仪

主要用于测定样品的晶体结构,可以用于物相分析、织构和应力测定。对薄膜样品可进行薄膜掠射和反射,进行多层膜物相分析和薄膜厚度研究。带有永久使用权的粉末数据库和单晶数据库,Retiveld精修,RIR参考强度直接给出半定量结果。微区附件可以检测最小100 mm的样品

 

靶材及功率:Cu2~3kW另配备Co

最大工作电压:60kV

最大工作电流:50mA

扫描方式:θ/θ方式

物相分析20/样。应力、微区50/样。织构80/

校外收费参照校内价格的2倍。

德国蔡司SUPRA 55场发射扫描电镜

 

用于各种材料的形貌组织观察,材料断口分析和失效分析,材料实时微区成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面扫描和线扫描分布测量,晶体、晶粒的相鉴定,晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量。

 

倍率:12-300,000×

探测器:镜筒内二次电子探测器,样品室二次电子探测器,背散射电子探测器 

X射线能谱仪:电制冷型,硅漂移探头,有效探测面积不少于50 mm2EBSD背散射电子衍射分析仪:用于材料的物相和结构组合分析

校内:100/小时

校外:600/小时

P.E.-Frontier红外光谱仪

利用物质在中红外波段对不同波长的红外辐射的吸收特性,进行分子结构和化学组成分析的仪器。红外光谱是物质结构鉴定的重要仪器方法

分析范围:4000 ~ 400 cm-1

光谱分辨率:0.5 ~ 64cm-1

检测器:氘化硫酸三甘氨酸(FR-DTGS

20/样,校外收费参照校内价格的2倍。

Netzsch STA449F3同步热分析

可以TGDSC联用,即在同一次测量中利用同一样品,同步得到其热重与差热信息。根据某一热效应所对应的质量变化,来判别该热效应所对应的物化过程。

温度:室温~1650

加热速率:0.00150/min

温度准确度:0.1

DSC测量范围:800 mW

测试气氛:动态;氧化、惰性; 

50/小时,按照实验曲线记录时间。

不足1小时按1小时算。

校外收费参照校内价格的2倍。

 

 

 

SpectroctromaXx07直读光谱仪

本设备可以对金属材料中的元素进行快速定量分析,具有分析速度快,准确度高,操作简便等优点。目前该仪器可以实现铁基、铝基、铜基和钛基4个基体下的元素检测,配备18块高分辨率CCD检测器和全息凹面激光光栅。

光栅:3600刻线 / mm激光全息光栅(无杂散光);

分辨率:0.001nm(一级分辨率);

检测谱线:140nm—670nm

标准样品尺寸:Ф ≥ 14 mmG ≤ 25 kg

Fe: 100/元素

Al90/元素

Cu130/元素

Ti180/元素

校外收费参照校内价格的2倍。

G4 Icarus碳硫分析仪

借助于高频感应原理和助熔剂,并保证充足的氧气供应,用于固体样品特别是金属材料中ppm级别到百分含量级别的碳、硫含量分析。该仪器具有自动化程度高,分析精度好,维护时间短等优点。

分析范围:碳:0.1 ppm -15 % ;硫:0.1 ppm - 6 %  

样品重量:0.5-1.0 g

分析精度:碳:1.0 ppm;硫:1.0ppm

灵敏度:碳、硫: 0.01 ppm

100/元素

价格计算以钢铁中CS标样为准,其他样品根据其具体标样价格有所浮动。

校外收费参照校内价格的2倍。

氧氮氢分析仪G8 Galileo

用于样品中氧、氮、氢三种元素的定量分析:在惰性气体保护下,借助于脉冲炉高温将样品熔融,样品分解所产生的含有COCO2H2ON2混合气体被带入到具有高稳定性和灵敏度的红外检测器和热导池检测器进行检测。

分析范围:N0.01 ppm – 3 %O0.01ppm -3 %H0.01 ppm - 3000 ppm

分析精度:± 0.05 ppm 或 ± 1 %

样品称重:0.5 – 1 g(特指钢铁样品)

ON200/元素

H: 150/元素

价格计算以钢铁中ON标样和钢铁中H标样为准。

校外收费参照校内价格的2倍。

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