大连交通大学理化分析测试中心

日本电子JEM 2100F透射电子显微镜

2011-12-31

本仪器用于材料的高分辨形貌观察和高空间的晶体结构、定性与定量成分分析等。配有数字化CCD相机、能谱仪(EDS)以及扫描透射（STEM）系统。可进行透射电镜形貌像和电子衍射花样的数字化像的记录；进行材料微区的定性、定量成份分析；进行扫描透射明场像和高角环形暗场（HAADF）像实验。

主要性能指标：

分辨率: 点分辨率: ≤0.19 nm

线分辨率: ≤0.10 nm

加速电压: 最高: 200 kV；

最小步长: 50 V

物镜: 球差系数: ≤0.5 mm

色差系数 : ≤1.1 mm

束斑尺寸: TEM模式: 2 - 5 nmf

EDS模式: 0.5 - 2.4 nmf

NBD模式:0.5 - 2.4 nmf

CBD模式: 0.5 - 2.4 nmf

放大倍数可达150万倍

样品倾斜角度: ≥±30°