|
锐影(Empyrean)X射线衍射仪主要用于测定样品的晶体结构，可以用于物相分析、织构和应力测定。对薄膜样品可进行薄膜掠射和反射，进行多层膜物相分析和薄膜厚度、粗糙度研究。带有永久使用权的粉末数据库和单晶数据库，Retiveld精修，RIR参考强度直接给出半定量结果。微区附件可以检测最小100 mm的样品，配备的二维探测器可以直接给出德拜环。
技术指标：
靶材及功率：Cu靶 2~3kW，Co靶
最大工作电压：60kV
最大工作电流：50mA
扫描方式:θ/θ方式
角度重现性：+/- 0.0001 度
最小可控步长：0.0001 度，可以停止在任何规定角度
整机重现性：0.001°
量程：1′102~5′105
探测器高压：1500~2000 V，最大准确记数：4′109
五轴欧拉样品台(Chi-Phi-X-Y-Z)：
Phi轴范围360°,Chi轴范围96°。X轴：54mm；Y轴：54mm；Z轴：12mm；
样品体积：直径80mm，高度16mm 最大载重：500g。
|
|
|
