荷兰帕纳科Empyrean X-射线衍射仪
2011-12-30
锐影(Empyrean)X射线衍射仪主要用于测定样品的晶体结构,可以用于物相分析、织构和应力测定。对薄膜样品可进行薄膜掠射和反射,进行多层膜物相分析和薄膜厚度、粗糙度研究。带有永久使用权的粉末数据库和单晶数据库,Retiveld精修,RIR参考强度直接给出半定量结果。微区附件可以检测最小100 mm的样品,配备的二维探测器可以直接给出德拜环。
技术指标
靶材及功率:Cu靶 2~3kW,Co靶
最大工作电压:60kV
最大工作电流:50mA
扫描方式:θ/θ方式
角度重现性:+/- 0.0001 度
最小可控步长:0.0001 度,可以停止在任何规定角度
整机重现性:0.001°
量程:1′102~5′105
探测器高压:1500~2000 V,最大准确记数:4′109
五轴欧拉样品台(Chi-Phi-X-Y-Z):
Phi轴范围360°,Chi轴范围96°。X轴:54mm;Y轴:54mm;Z轴:12mm;
样品体积:直径80mm,高度16mm 最大载重:500g。

 

[上一条]
 
 
地址:大连市沙河口区黄河路794号 邮政编码:116028 电子邮箱:lu@djtu.edu.cn  电话:84106925
版权所有 ©2011 - 2012 大连交通大学理化分析测试中心