日本日立H-800透射电子显微镜
2011-12-31

 

本仪器用以观察样品形貌,进行选区成像、选区衍射结构分析。主要用途如下:对晶体材料(金属、半导体、化学、生物、矿物、催化剂),可进行形貌观察和电子衍射分析。纳米颗粒材料,可观察其生长形貌,对于特殊形貌颗粒如:棒状、片状、线状颗粒,通过电子衍射可分析其生长方向。可研究金属材料的晶体缺陷、结构、晶界、相界、相变过程的微结构及结构变化,以获得材料性能与结构形态的关系。
主要性能指标:
分辨率:可倾动角±25°时,晶格分辨0.204 nm,点间距0.20 nm
放大倍数:电子图象:100 X — 6×105 X(30档可调)
选区图象:100 X — 3×105 X(25档可调)
加速电压:200 KV、175 KV、150 KV、100 KV、75 KV。
电子衍射分辨指标:5×10-6
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